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本文標題："應用于電子學的圖像比較顯微鏡制造廠商"

發(fā)布者：yiyi ------ 分類: 行業(yè)動態(tài) ------ 人瀏覽過-----時間：2014-6-4 5:15:42

應用于電子學的圖像比較顯微鏡制造廠商

采用差動紅外熱敏成像法(DIT)的圖像比較采用差動紅外熱敏成像法的

圖像比較能對在不同時間得到的溫度記錄圖進行自動比較。這包括基于時間

的DIT(從相同靶得到的圖像比較)以及對比DIT(從不同但相似的靶得到的圖

像比較)。

專門的軟件程序允許操作者并從某一圖像中減去另一圖像，或從某一區(qū)域中

減去另一區(qū)域以及顯示像素之間的“差值溫度記錄圖”。圖像的比較(相減)

可以在從磁盤檢索的兩個圖像之間、實時圖像與從磁盤檢索的圖像之間以及

實時圖像與RAM中儲存的圖像之間進行。這樣，合格電子封裝、元件和組件

的標準熱圖像便可以歸檔，并用作與隨后被檢查物品比較的模型。也可以從

以前的基準圖像中減去實時圖像，用于隨后基于時間的熱瞬變測量。

這種圖像比較功能對許多過去和當前的電子學應用是十分關鍵的。

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