本文標(biāo)題："碎屑形式取樣,碎屑制備成光譜分析試樣測(cè)量顯微鏡"
發(fā)布者：yiyi ------ 分類(lèi): 行業(yè)動(dòng)態(tài) ------
人瀏覽過(guò)-----時(shí)間：2015-11-7 17:23:52
碎屑形式取樣,碎屑制備成光譜分析試樣測(cè)量顯微鏡
碎屑的取樣
分析用碎屑、粉末狀金屬和少量樣品的制備
如果不可能由被試驗(yàn)的產(chǎn)品成型為一電極，但允許在某些點(diǎn)能
鉆孔、磨碎等方法破壞它，然后把碎屑制備成光譜分析試樣，碎
屑既可直接地蒸發(fā)，也可通過(guò)壓制或重熔造型成試樣，甚至可通
過(guò)酸或堿制備成溶液進(jìn)行分析。
如以碎屑形式取樣時(shí)，必須小心遵守如下預(yù)防措施：
1、只有小心清洗過(guò)的，無(wú)銹、無(wú)鱗狀我的表面才可以著手取
樣。
2、鉆孔、車(chē)床加工、刨屑或研磨工具必須有相應(yīng)于樣品性質(zhì)
的硬度和形狀，為了避免樣品污染切削工具必須小心清洗，如果
需要，必須采用硬的工具，而樣品必須退火。
3、碎屑必須進(jìn)行干燥，但要防止樣品以過(guò)熱的速度進(jìn)行，即
絕對(duì)避免形成電鍍色。
4、碎屑的厚度僅以不妨礙它們進(jìn)一步處理為宜：粉碎、稱(chēng)重
、制坯或者分解。
5、為了減少樣品可能不均勻，合理的是沿樣品的中心面分布
的各點(diǎn)，取樣的深度至少為試樣總厚度的2/3，為了研究在各個(gè)
平面中試樣組成分布的不均勻性，樣品可按層次取出，即通過(guò)刨
削或銑削。
后一篇文章：切屑取來(lái)的樣品鑄造痕量測(cè)定光譜分析顯微鏡 »
前一篇文章：« 碳含量測(cè)定金相顯微鏡,旋轉(zhuǎn)盤(pán)式金相研磨機(jī)廠商
tags:材料學(xué),技術(shù),礦物,金相顯微鏡,上海精密儀器,
碎屑形式取樣,碎屑制備成光譜分析試樣測(cè)量顯微鏡,金相顯微鏡現(xiàn)貨供應(yīng)
本頁(yè)地址：/gxnews/2992.html轉(zhuǎn)載注明
本站地址：/
http://www.xianweijing.org/