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本文標題："燒結金屬顆粒體積擴散模型分析光學式顯微鏡"

發布者：yiyi ------ 分類: 行業動態 ------ 人瀏覽過-----時間：2015-12-10 21:10:8

燒結對雜質很敏感，根據體積擴散模型分析顯微鏡

雜質的重要性

燒結對雜質很敏感，根據體積擴散模型，就容易理解，因為缺濃

度大大地受雜質離子濃度，特別是那些價數與主體晶格不同雜質

離子濃度的影響，是以，如將二氧化鑄加入氧化美，產生正離子空

位所以促進燒結，并且在實踐中被證實，還有，在有氣態氧存在時

，由于它使一些離子轉變成空位數目將進一步增加，是以二氧化鈦

促進燒結的影響，在有氧存在時應比在有惰性氣體存在時為高，這

也為實驗所發現，郭的加入應促進燒結，因為產生了0空位，一個

為實踐所支持的預測：氧化鎂中如加入0.5%，在1400℃時灼燒產生

為3.46的密度，而如氧化鎂是純的，要到達這種密度，需要加熱至

1800℃的溫度，反之，如固體的空鎂濃度減低，對燒結的阻力增加

。

雜質對范性流動較難想象，但是可以預測，雜質含量也會影響位

錯的比例，從而影響燒結的性質。

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