本文標題："測涂層內總微孔容積或是平均微孔半徑分析顯微鏡"
發布者：yiyi ------ 分類: 行業動態 ------
人瀏覽過-----時間：2017-5-14 23:40:6
測涂層內總微孔容積或是平均微孔半徑分析顯微鏡
輻射電子成像法
在傳輸成像中利用電子(或p射線)而不是光子，是因為電子受
涂層的影響比受原紙的影響更強烈。這是因為與碳原子占優勢的紙
張相比較，無機顏料有更高的平均原子量。較重的原子有較密的電
子云，因而與電子束的相互作用更強烈。傳輸電子成像就比傳輸光
成像給予更精確的涂布量分布圖像。
Kubelka—Munk理論
Kubelka—Munk理論可用以推測涂層內部相關顏料堆積效率方
面的信息。有時往往自然地假設顏料散射性是一個內在性能，顏料
混合物的散射性可按其顏料成分的線性組合進行計算。但實際并不
是這樣，因為散射性跟顏料所處環境有十分復雜的關系。形成顏料
混合物并不難，但其所得的堆積密度則可能會比單個組分要好些或
壞些。這就使形成的散射系數低于或高于根據線性綜合計算所預測
的結果。因此如果涂布配料形成低于或高于所需的散射系數，就可
以推斷該涂層比單獨組分有不同的微孔結構。可能不同點或是總
微孔容積或是平均微孔半徑。
后一篇文章：生物材料-微接觸打印是一種直接接觸式打印技術 »
前一篇文章：« 紙張的白度、色值局部受涂層結構分析顯微鏡
tags:技術,制造,光學,材料學,金相顯微鏡,上海精密儀器,
測涂層內總微孔容積或是平均微孔半徑分析顯微鏡,金相顯微鏡現貨供應
本頁地址：/gxnews/4208.html轉載注明
本站地址：/
http://www.xianweijing.org/