本文標題："礦顆粒粒級為60-500μm-顆粒大小計量顯微鏡"
發布者：yiyi ------ 分類: 行業動態 ------
人瀏覽過-----時間：2017-9-15 21:25:51
礦顆粒粒級為60—500μm-顆粒大小計量顯微鏡
為了適應多種礦物的分選，所有影響電選機分選的參數必須易
于調節。這些變量包括圓筒轉速、電極導線相對于電極銅管的位置
、電極裝置相對于圓筒的位置、直流電壓和極性的變化、分離板的
位置、給礦速度及其加熱量。給礦加熱很重要，因為，通常情況下
處理非常干燥的物料時可以獲得最佳的分選效果。這一點在高濕度
地區非常難辦到。電選一次通常不足以富集礦石；
高壓電選處理的給礦顆粒粒級為60—500μm。顆粒大小影響分
選性能，因為與其質量相比粗顆粒表面電荷要小于細顆粒。因此粗
顆粒更易被排離圓筒表面，從而導電部分往往含有少量非導電粗顆
粒。同樣，較細顆粒受表面電荷影響最大，非導電部分往往包含一
些導電細顆粒。
上述產品的最終精選通常在只利用“提升效應”的單純靜電選
礦機中進行。現代靜電選礦機有板型和篩型兩種，前者主要用來從
導電給礦中脫除少量非導電物料，而后者則是從非導電給礦中脫除
少量的導電物料。實際上兩種電選機的操作原理相同。給礦顆粒沿
一塊傾斜的接地板自流入由一個大的橢圓形的高壓電極感應的靜電
場。
后一篇文章：礦樣常在物料精確測定分析圖像顯微鏡 »
前一篇文章：« 金屬中生成化合物鐵素體分析金相顯微鏡
tags:材料學,技術,光學,金相顯微鏡,上海精密儀器,
礦顆粒粒級為60-500μm-顆粒大小計量顯微鏡,金相顯微鏡現貨供應
本頁地址：/gxnews/4486.html轉載注明
本站地址：/
http://www.xianweijing.org/