本文標(biāo)題："電子微探儀分析(EPMA)/SEM電子顯微鏡"
發(fā)布者：yiyi ------ 分類: 行業(yè)動(dòng)態(tài) ------
人瀏覽過-----時(shí)間：2013-4-10 0:30:35
電子微探儀分析(EPMA)/SEM電子顯微鏡
試片的準(zhǔn)備方法與一般金相試片相同，但必須能導(dǎo)電。
使用電子微探儀進(jìn)行顯微組織結(jié)構(gòu)的觀察，針對(duì)各種不同的介金屬化合物所含元素做定量的成分分析與 X 光映像，定
量分析的試片不做浸蝕的處理，以減少分析上的誤差
后一篇文章：精密測(cè)量顯微鏡,強(qiáng)度及高韌性材料測(cè)量?jī)x器 »
前一篇文章：« 鑄件、引擎汽缸表面金相結(jié)構(gòu)檢測(cè)顯微鏡廠家
tags:精密儀器,金屬,金相顯微鏡,上海精密儀器,
電子微探儀分析(EPMA)/SEM電子顯微鏡,金相顯微鏡現(xiàn)貨供應(yīng)
本頁(yè)地址：/gxnews/653.html轉(zhuǎn)載注明
本站地址：/
http://www.xianweijing.org/